PVPMC干货汇总:如何降低系统衰减?海内外光伏专家昆山论剑
责任编辑:liliuyan 作者: 2019/12/10 14:17:04 浏览:1293 活动报道

12月9日,第十三届国际光伏性能建模与仿真监测研讨会(PVPMC)在江苏昆山开幕。本次会议为期两天,共分为7个专题,重点关注可靠性研究与建模、系统性能分析、光伏系统技术、光储产品测试与认证等方面,共收录了42篇高质量专业论文,其中37篇论文将会在研讨会中进行呈现。来自海内外的光伏技术专家齐聚昆山,共同对行业前沿进行交流探讨。


德国弗朗霍夫系统研究所

Boris Farnung


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Boris Farnung从理论和实践两方面对光伏电站的衰减进行了分析,他指出,准确的监测与良好的运维对提升光伏电站发电量和降低损耗十分关键。德国弗朗霍夫系统研究所对一个从2009年开始运行的光伏系统进行了研究,数据显示,经过10年的运行,光伏组件的功率损耗较小,运行较为稳定可靠,而逆变器故障则对系统级性能损失率影响较大。


Boris Farnung表示,几乎所有可观察到到的损失都是可逆的,损失率在很大程度上取决于故障排除的速度。质量保证、运行过程中数值测量、对污染物的测量以及组件清洁是减少光伏系统衰减的关键要素。


美国桑迪亚国家实验室

Joshua Stein


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Joshua Stein指出,目前光伏行业面临着诸多挑战,政策大环境较为严峻,我们需要通过展现光伏产业的价值来推动整个产业发展,通过价格优势使太阳能取代传统能源。他表示,提高低成本光伏组件的稳定性与可靠性,通过延长光伏系统的使用寿命提升经济和环境效益是目前光伏行业发展过程中的关键点。


Joshua Stein进一步指出,在不同的气候条件下与不同的设计方案对系统寿命有着不同影响,因此需要更多的实验室和现场研究来对模块和系统设计进行优化。


隆基乐叶技术总监

王梦松


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王梦松在演讲中对双面组件特性及增益模型进行了介绍,并对实证数据和模拟对比进行了详细分析。他指出,在某些情况下基于视觉因子模型的PVSyst软件能够很好的预测双面组件的发电量增益,但是在地表辐照度不均匀,尤其是沙地、水泥地的情况下进行模拟仍然具有一定缺陷。模拟结果和实测结果显示,随着地表反射率和安装高度的提高,双面组件增益也相应提高,实测结果显示双面组件增益与散射光比例有着重要的关系。


王梦松进一步指出,双面电站每个场景都有差异性,需要在设计早期进行详细勘察,了解场地的情况、地标辐照情况,对设计安装方式、安全高度来进行综合分析,结合实际情况通过软件模拟进行修整分析。


江苏中信博CTO

王士涛


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王士涛在演讲中介绍了基于人工智能的双面组件跟踪系统及人工智能解决方案。王士涛指出,人工智能驱动的处理器对光伏系统数据进行处理收集之后,跟踪器能够在系统中准确跟踪,达成高效通信协议,这一过程极大增加了系统数据的可行性。


王士涛表示,人工智能是未来跟踪器算法的大势所趋,通过建立数据库可以很大程度上节省物料成本。另外,基于AI的自我学习与培训机制,整个系统将更加自动化。同时,网络技术和感应器能够在整个发电站进行信息收集,使系统更加高效。


华矩检测技术总监

陈思铭


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陈思铭对基于室外试验的双面光伏组件输出特性仿真与优化研究进行了分析,他指出,东西垂直安装的双面组件与最佳倾角安装的单面组件相比,其输出特性的“双峰”形态在特定场景中更具有应用优势,双面组件的最佳安装倾角大于常规组件的最佳安装倾角。


除了调整倾角,在设计时还需要关注逆变器的配置参数是否能够满足组件的输出。基于PVsyst当前版本,垂直安装模型仍在不断更新。根据模拟数据显示,朝南倾斜安装情境下IAM损失中以散射辐射损失为主,而垂直安装情况下IAM损失达到4%~10%,且以直射辐射的损失为主。


CTC国检集团市场总监

李孟蕾


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李孟蕾在演讲中分析了工信部湿热环境组件企业年衰减率结果,并详细讲解了双面双玻户外的实证测试与研究。李孟蕾介绍,为了研究国内典型气候下组件和系统应用的评估分析方法体系,对综合性能进行对比并形成动态数据库和产品质量报告,2015年起,依托工信部发展基金,CTC开展了抽查工作。通过进行随机抽样,最大限度保证产品的生产质量。海南实证基地是CTC的测试平台,通过监控系统,可以实现对环境绩效参数和光伏发电参数的全监控,随机选取任何一家都可以实时看到包括温度在内的全部情况。


阿特斯首席工程师

赵长瑞


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赵长瑞对双向HSAT系统的阴影因子和失配损失进行了分析,对于阴影因子,阿特斯采用了背面追踪技术。他指出,通过使用PVSyst可以直接计算出阴影因子,基于一些模拟,阿特斯进行了第二代的开发,通过将一些辐射度的数值和一个背面光线追踪技术进行结合,来进行每小时的失配损失的分析。赵长瑞进一步指出,这个失配损失的分析并不等于PVSyst的失配分析技术,而是一个电子的失配损失,是建模的一个功率损耗。

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