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最低达0.23%，单晶PERC电池片抗光衰性能再创新高！
责任编辑：liliuyan
作者：光伏們
2019/4/9 10:33:55
浏览：2859
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北极星太阳能光伏网消息，通威PERC单晶各厂产线测试LID数据显示，目前通威P型电池LID 5KWh衰减均值已降低至1%以下，最低达0.23%。而行业目前的平均衰减水平为1.1%-1.8%。
通威智能制造电池片
LID（Light Induced Degradation，光致衰减）现象是指光伏电池及组件在受光照后产生功率衰减的现象。P型单晶硅电池会有光衰早在1973年就已经发现。一般认为，P型（掺硼）单晶太阳电池光致衰减的主要原因是，硅材料中必须硼和氧同时存在，光照或电流注入导致硼和氧形成硼氧（B-O）复合体。硼氧复合体是一种亚稳态缺陷，形成了复合中心，从而降低了少数载流子寿命。
目前解决P型硅电池LID的措施有：降低硅片中氧含量，退火处理或者使用掺镓P型硅片。
而早在几年前，隆基乐叶就宣布公开单晶低衰减技术--LIR（光致再生）技术。据称，LIR技术可以完美解决P型单晶LID现象，由新南威尔士大学与隆基乐叶合作进行技术研究和产业化开发。
据报道，通威P型单晶电池除了在目前行业最新关注、最为严格的CID电衰测试中结果相当亮眼之外，通威P型单晶电池在客户端测试的平均衰减也是达到0.61%-0.92%，最低达0.23%。
一线组件大厂对通威PERC单晶CID衰减测试情况
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